confocalDT 2421 和 2422 控制器用于高反射性或镜面被测表面的位移和厚度测量。

 

本系列产品同时提供单通道或双通道版本，为大批量工业应用提供更为经济的解决方案。CCD阵列主动曝光管理功能，使对于复杂变化表面的测量更为准确、快速。本系列控制器可以适配各款IFS传感器探头，用于标准距离测量或多层厚度测量。采用特殊计算功能， confocalDT 2422 双通道控制器可同时评估两个通道的测量结果。通过同步功能，两通道传感器可以实现全速度位移测量。

 

源于友好的客户网络界面，无需额外安装软件，就可以实现全部调试功能。测量数据可以通过Ethernet, EtherCAT, RS422或模拟量端口输出。